专利证书：利用散射光的偏振差异测量颗粒折射率的方法及系统201911071791.6

真理光学通过ISO9001:2015质量管理体系认证

专利证书：颗粒折射率测量方法、计算机装置及计算机可读存储介质201810552388.4

专利证书：一种带液体鞘流测量池的激光粒度分析仪201921219223.1

专利证书：超低下限的在线激光粒度仪202121718637.6

专利证书：测量颗粒材料中超大颗粒含量的装置202122186274.2

专利证书:光纤偏振滤波技术ZL201720189750.7

美国发明专利证书-US 12111240 B2-一种利用散射光的偏振差异测量颗粒折射率的方法及系统

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