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专利认证
专利证书：利用散射光的偏振差异测量颗粒折射率的方法及系统201911071791.6
真理光学通过ISO9001:2015质量管理体系认证
专利证书：颗粒折射率测量方法、计算机装置及计算机可读存储介质201810552388.4
专利证书：一种带液体鞘流测量池的激光粒度分析仪201921219223.1
专利证书：超低下限的在线激光粒度仪202121718637.6
专利证书：测量颗粒材料中超大颗粒含量的装置202122186274.2
专利证书:光纤偏振滤波技术ZL201720189750.7
LT系列激光粒度分析仪通过FCC认证
专利证书：旋转间歇式在线粉体取样技术ZL202121928564.3
真理光学产品获得美国FDA认证
LT系列激光粒度分析仪通过CE认证
专利证书：兼有微量进样功能的进样器201621332818.4
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