张福根博士受邀出席CAC2026西安先进陶瓷论坛

发布时间：2026-06-30 点击次数：16次

2026 年 6 月 25—26 日，由粉体圈（珠海铭鼎科技有限公司）主办的 CAC2026 全国先进陶瓷论坛暨半导体用陶瓷专题论坛在陕西西安中建假日酒店举行。北方华创、华海清科、拓荆科技、沈阳富创等半导体装备龙头，清华、南京工业、上海大学、西安交大、西工大等高校科研团队，以及氧化铝、氮化铝、碳化硅、氮化硅、氧化锆等先进陶瓷产业链企业齐聚古城。

这不是一场普通行业会。

粉体圈作为国内最早系统性深耕氧化铝、氮化硅、抛光材料、金属粉体、电子陶瓷、半导体陶瓷等细分赛道的第三方平台，其会议天然带有“技术硬、客户准、产业链真”的标签。而西安既是西部工业重镇，又聚集了大量航天、兵器、电子军工与半导体配套力量——把“先进陶瓷 + 半导体陶瓷”放在西安讲，本身就是产业信号。

珠海真理光学仪器有限公司作为粉体圈签约合作主赞助商亮相本次论坛：现场展示 LT3900 旗舰型激光粒度仪，并由创始人、首席科学家张福根博士作《激光粒度仪在半导体陶瓷材料粒度测量中的应用及注意事项》专题报告，把“粉体粒度”这件事，讲到了半导体陶瓷产业最敏感的质控神经上。

一、半导体陶瓷为什么突然变“卷”？粒度是第一道门槛

半导体制程对陶瓷部件的要求近乎苛刻：

● 晶圆传输、刻蚀、沉积、封装环节要用到高纯 Al₂O₃、AlN、SiC、Si₃N₄；

● 部件不能释气、不能掉粉、不能引入金属污染；

● 粉体粒径分布直接决定烧结密度、晶粒尺寸、表面粗糙度和介电性能；

● 军工/航天场景还要叠加高可靠、长寿命、批次可审计。

但行业长期被几件“小事”卡住：

● 激光粒度仪有盲区；

● 爱里斑反常变化（ACAD）让 0.4–6 μm 透明颗粒测不准；

● 进口品牌“乳胶球模型 / 通用模型”切换，导致标准物质都测不稳；

● 多模型模式让不同人、不同仪器、不同批次结果对不上。

对半导体陶瓷来说，这不是“报告不好看”，而是工艺判据不可信。

二、张福根博士的报告：从原理层把问题说透

张福根博士是国内激光粒度仪产业化的亲历者：1989 年起在天津大学做颗粒散射研究，创办欧美克、又创立真理光学，30 余年只做一件事——把“颗粒怎么测准”讲清楚、做出来。

图为：张福根博士作专题报告

在西安论坛上，他没有堆参数，而是直接拆原理：

● 传统正入射结构存在 41°–139° 全反射盲区 → 真理光学用斜置平板窗口把盲区压下去；

● ACAD 会导致透明陶瓷粉散射角与粒径非单调 → 真理光学做专属补偿修正；

● 多模型切换是逻辑悖论 → 真理光学 LT 系列坚持统一反演模型，用户不用猜、无需切换不同模型；

● 半导体陶瓷既要微米级粉体主控，又要纳米级团聚/分散信息 → 激光粒度仪 + 动态光散射纳米粒度仪构成全量程体系。

现场嘉宾来自半导体设备厂、陶瓷部件厂、军工院所和粉体企业，反馈很直接：“不是来听仪器广告，是来听颗粒物理课。”

三、LT3900 走进西安：为什么西部先进陶瓷客户要看真理光学

图为：真理光学展台客户来访交流

本次论坛真理光学不仅讲，也展。面向半导体陶瓷、电子陶瓷、军工陶瓷客户，现场重点呈现：

LT3900 旗舰机：一镜到底的底层逻辑，斜置窗口 + 弱散射光抗干扰 + 超大角散射增强技术加持，确保0.01 μm–4000 μm 宽量程，统一米氏模型；40 nm 单分散标样实测 41.8 nm，107.3 μm 玻璃微珠 RSD 0.037%，不是“标称下限好看”，而是标准样、实际粉体、产线样品都用同一套科学语言；

系统支持干湿两用且兼容多种不同容量进样方式，适配 Al₂O₃、AlN、SiC、Si₃N₄、ZrO₂ 等硬质/高纯陶瓷粉体，适合实验室方法开发，也适合产线来料、球磨、分级、烧结前质控。

这对西部军工、航天、半导体陶瓷企业来说，这意味着：得到粒度数据可以从“出厂检验报告”升级为“工艺可控数据”。