
2026年10月14—16日,第八届高能量密度电池用碳材料技术高峰论坛暨第四届硅碳/多孔碳技术产业化发展论坛在江苏常州富都洲际酒店举行。本届论坛聚焦硅碳负极、快充石墨、新型导电剂、钠电硬碳、多孔碳及碳集流体等方向,汇聚刘兆平、魏飞、郑洪河、杨全红、董明等业内重磅专家学者,以及硅碳、硬碳、导电剂产业链一线企业,被业内视为“碳材料站上C位”的一次深度对话。
真理光学作为国产高端颗粒表征企业参会设展,围绕“粒度数据如何支撑碳材料从实验室走向吨级量产”这一主线,与材料厂、电芯厂及装备企业展开技术交流。
一、碳材料产业化,先过“粒径”这一关
当硅碳、硬碳、多孔碳从论文走进产线,行业共识越来越清晰:碳材料不再只是负极“辅料”,而是直接决定能量密度、快充能力、首效与循环寿命的关键变量。而把这些变量锁住的底层参数,正是粒径分布。
图为:今年大会论坛现场
在论坛高频讨论的几类场景中,粒度问题尤为突出:
● 硅碳负极:D50偏粗会导致浆料沉降、涂布条纹、压实密度上不去;纳米硅团聚则让CVD沉积均匀性失控。
● 多孔碳/硬碳:批次粒径漂移会直接传导到硅沉积均匀性和循环衰减;宽分布会让钠电倍率性能不稳、量产一致性难看。
● 碳纳米管/石墨烯导电剂:浆料团聚伴随Zeta电位下降,导电网络出现断点。
● 碳集流体与复合导电浆料:细粉占比、粗尾控制、分散稳定性共同决定涂层缺陷率。
一句话——粒径不是报表里的一行数,而是上粉、涂布、压实、首效、循环的底层变量。谁把颗粒数据控住,谁才敢说“批次一致”。
二、真理光学:把粒度仪做成碳材料量产的“主尺”
过去高精度粒度数据长期依赖进口仪器,国内厂做批次比对时常遇到“同粉不同数”的尴尬。真理光学核心团队在颗粒表征领域沉淀30余年,依托ACAD(爱里斑反常变化)补偿、统一反演模型和在线监测方案,把激光粒度仪切进碳材料研发、来料质检与产线闭环,逐步形成进口替代能力。
图为:LT3900激光粒度仪和PATlink在线粒度仪产品
本次论坛现场,真理光学重点呈现已被锂电池领域广泛验证的两套能力:
1)LT3900激光粒度分析仪——碳材料离线检测的“主尺”
● 覆盖宽粒径区间,适配硅碳负极、硬碳、多孔碳前驱体、石墨类材料及导电炭黑等复杂分布;
● 统一反演模型,不切分析模式,减少不同操作员、不同仪器间的结果偏差;
● ACAD补偿+斜置窗口+超大角散射增强,解决亚微米段多值与全反射盲区,让宽分布样品“同曲线出数”;
● D10/D50/D90、Span一键输出,支撑来料验收、出厂质控与研发比对。
对碳材料厂而言,LT3900的价值不是“测得更细”,而是每次测出来都信得过——不同班次、不同实验室的数据能对表,才能写进SOP和客户验货标准。
2)PATlink在线激光粒度监控系统——从实验室走到产线闭环
面向研磨、分级、制浆环节,实时盯粒径漂移,粒度异常自动预警,通过工业协议接入PLC,实现“离线抽检”向“过程分析(PAT)”升级。对正在冲刺千吨、万吨级的硅碳和多孔碳产线,这套系统把颗粒质控从QC推进为关键过程参数(CP)。
此外,围绕CNT/石墨烯导电浆料与纳米硅分散体系,真理光学可延伸Nanolink纳米粒度及Zeta电位分析仪,同步给出粒径与表面电荷,判断团聚趋势与分散窗口。
图为:茶歇期间客户前来技术交流互动现场
三、现场:头部材料厂主动来聊“方法”,不只是看机器
论坛期间,真理光学展台接待了来自硅碳沉积、硬碳前驱体、多孔碳制备、导电剂浆料及电芯厂负极研发一线的专业客户。大家关心的不再是“仪器能测多小”,而是更落地的问题:
● 硅碳成品宽分布怎么测才不丢粗尾?
● 多孔碳批次漂移,粒度判据怎么建?
● CVD沉积前后粒径变化怎么跟踪?
● 硬碳来料验收的D50/D97控制线怎么定?
● 纳米硅浆料Zeta电位掉到多少算风险?
真理光学技术团队结合具体样品,就分散条件、标样溯源、统一模型比对给出方法学建议——这也契合碳材料客户对审计、批次追溯和出海供应链质控的要求。
目前,真理光学仪器已进入比亚迪、璞泰来、杉杉集团、贝特瑞、孚能科技、多氟多、德方纳米、冠宇等新能源产业链头部企业的研发与质检环节。不是低价替换,而是数据对标问题解决之后,头部客户愿意把长期批次数据交给国产设备跑。
四、从常州论坛看国产粒度仪的位置
这届碳材料论坛释放出一个明确信号:硅碳从“能做出来”走向“吨级量产”,硬碳从“钠电备选”变成“供不应求”,单壁碳管从“奢侈品”变成“必需品”。每一次放大,都先把粒度数据逼到台前。
对国产仪器而言,竞争早已不是“能否测到纳米”,而是能否在宽分布、弱散射、高固含、包覆多组分等复杂体系中保持重复性与可解释性。真理光学在常州传递的态度很清晰:
高端颗粒仪器不再只是进口替代选项,而是碳材料产业化的工艺数据伙伴——用统一模型、标样溯源和在线闭环,把“粒度”变成可承诺的工艺参数。