PATlink系列是真理光学基于粒度表征技术及自动化过程控制技术开发的新一代全实时在线粒度监测与控制系统,该系列产品包括了PATlink 1000和PATlink 3000两个型号,都可以同时满足干法和湿法的生产工艺过程,既可用于在线粒度测量,也可以用于线上和现场的粒度分析。
PATlink系列在线粒度仪具有坚固的架构和先进的技术支撑,以满足苛刻及复杂的过程工艺环境对连续粒度测量和控制的要求,被广泛应用于电池材料、制药、食品、涂料、水泥、染料、金属粉末、矿物和调色剂等行业的工艺过程环境。
PATlink系列在线粒度仪采用光缆连接控制室的计算机和粒度检测系统及控制单元,具有极强的抗干扰能力,并实现远距离的数据传输和控制。嵌入式仿真控制程序模块和界面,使所有阀门和气流状态一目了然。
最高每秒5次的完整的粒度分布数据可通过满足ModbusRTU/TCP等标准工业通信控制协议的接口实时输送至用户的PLC系统,任何时刻的粒度指标的偏离都可触发对生产设备的自动调整和控制,确保产品颗粒粒度持续满足用户设定的指标要求。
技术特点:
◆独一无二的超大角光学系统,保证了亚微米粒径测量的准确可靠
◆独一无二的超大角光学系统,保证了亚微米粒径测量的准确可靠
◆独创的光学玻璃液体鞘流保护技术
◆首创的一机多线方案:一台主机可监测多条生产线
◆首创的一机多用方案:既可在线测量(On-line),又可旁线测量(At-line)
◆采用光纤偏振保持及空间滤波专利技术,确保光路系统及激光输出无需任何机械调整
◆满足EMC工业级电磁兼容性要求
◆采用光缆连接控制室的计算机和粒度检测系统及控制界面,具有极强的抗干扰能力,并实现远距离的数据传输
和控制
◆支持ModbusRTU/TCP等工业控制通讯协议,连接客户PLC系统
◆CE认证
受益于PATlink1000在线粒度仪的使用
◆闭环的过程优化及持续监测和控制
◆确保生产设备运行更接近目标值
◆减少不同批次产品间的差异
◆批量生产时开机后快速达到合格标准
◆减少原料浪费和返工
技术特点:
> 粒度测控范围:0.1μm–1000μm,无需变换透镜
> 测量速度:最快每秒5次完整粒度分布,每分钟能测量多达数百万个颗粒
> 超大角光学系统,确保亚微米粒径准确可靠测量
> 独创的液体鞘流法窗口玻璃保护技术
> 双气帘干法窗口玻璃保护技术
> 一机多线多用方案,一台主机监测多条生产线,既可在线测量(On-line)又可旁线测量(At-line)
> 采用光纤偏振保持及空间滤波专利技术,确保光路系统在使用过程中无需任何机械调整
> 满足EMC工业级电磁兼容性要求
> 防水防尘性能达到IP65工业防护等级
> 采用光缆连接控制室和粒度检测系统的计算机,具有极强的抗干扰能力,并实现远至千米的数据传输和控制
> 支持Modbus RTU/TCP等工业控制通讯协议,连接客户PLC系统
> CE认证
受益于PATlink1000在线粒度仪的使用
> 无需人工从车间取样,到实验室完成样品测量,在粉体生产加工的全过程都可以实时了解当前以及回溯粉体粒度大小的变化趋势
> 闭环的过程优化及持续监测和控制
> 确保生产设备运行符合目标值
> 减少不同批次产品间的差异
> 批量生产时开机后快速达到合格标准,减少原料浪费和返工和返工
注:* 文中关联之专利技术为我司应产品性能需要使用不限于下述部分或全部专利技术,最终解释权归真理光学所有。真理光学为ZL201720195784.7/ZL201720374474.1/ZL201720189750.7/ZL201621332818.4/ZL201810552388.4/ZL201921219223.1/ZL201911071791.6/ZL202121718637.6/ZL202122186274.2专利权持有人。