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真理光学粒度仪新品及应用方案亮相2018全国碳化物技术交流会
  • 发布日期:2018-09-17     信息来源:      浏览次数:194
    •         九月的古都开封,悄然间有了一丝秋意。915-17日,2018年全国碳化物粉体与陶瓷制备技术交流会在开封来旺达酒店顺利召开。大会聚集了全国碳化物粉体行业的知名专家、企业及用户,就此机会畅谈碳化物陶瓷制备和测试技术以及碳化物粉体在各领域的应用。真理光学首席科学家张福根博士在会上作了题为《碳化硅粉体颗粒的表征技术》的报告,详细阐述了碳化物粉体的粒度测试原理和方法。

       

               

                                                                       张福根博士在会场作报告

       

      真理光学仪器有限公司作为本次会议的赞助单位,展出了性价比极高的LT2200系列激光粒度分析仪。多位与会嘉宾在展台现场观摩仪器,更有产品经理向嘉宾介绍产品性能和操作步骤。不少嘉宾留下了联系方式,希望会后能够深入交流。

       

                                                        与会嘉宾参观真理光学仪器

       

      LT2200系列是真理光学继LT3600系列激光粒度仪之后,基于用户对高性价比粒度仪的需求而倾力打造的全新一代超高速智能激光粒度分析系统。LT2200系列加持了真理光学首创的偏振滤波专利技术和衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术,用户无需选择分析模式,即可在全粒径范围获得准确可靠的粒度结果。LT2200系列测量速度高达创纪录的每秒20000次,粒径范围为0.02um-2200um,兼顾极高的灵敏度和重现性,能充分满足碳化物粉体行业技术研究和质量控制的需要。